在材料科學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域，精確制備高質(zhì)量的透射電子顯微鏡（TEM）和掃描透射電子顯微鏡（STEM）樣品是實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率成像和分析的關(guān)鍵。Technoorg Linda 公司生產(chǎn)的 Gentle Mill 離子精修儀以低能量離子束技術(shù)，為科研人員提供了一種高效、清潔的樣品精修解決方案，廣泛應(yīng)用于各種材料的微觀結(jié)構(gòu)和性能研究。本文精選了 11 篇使用 Gentle Mill 離子精修儀發(fā)表的文獻(xiàn)期刊（排名不分先后），展示了該設(shè)備在材料科學(xué)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用和顯著成就。

01. 鈣釕氧化物超薄膜中異常尺寸效應(yīng)的增強(qiáng)

關(guān)鍵詞：超常尺寸效應(yīng)，超薄膜，CaRuO3

發(fā)表文章：Enhancement of Extraordinary Size Effect on CaRuO3 Ultrathin Films

發(fā)表期刊：ADVANCED ELECTRONIC MATERIALS

使用儀器型號(hào)：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

研究人員利用 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄、清潔的鈣釕化物樣品，并通過(guò)原子分辨率的 STEM 觀察，深入探究了其異常尺寸效應(yīng)的增強(qiáng)現(xiàn)象。該研究借助 Gentle Mill 的低能量 Ar 離子束（0.3–1 keV）對(duì)樣品進(jìn)行精修，成功去除了樣品表面的損傷層，為后續(xù)的高分辨率成像提供了高質(zhì)量的樣品。

02. 通過(guò) STEM 進(jìn)行 InGaN 的成分 mapping 分析

關(guān)鍵詞：定量 STEM 分析，成分確定，多層切片模擬，冷凍晶格模擬

發(fā)表文章：Composition mapping in InGaN by scanning transmission electron microscopy

發(fā)表期刊：Ultramicroscopy

使用儀器型號(hào)：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

研究人員使用 Gentle Mill 離子精修儀制備了清潔的 InGaN 樣品，并通過(guò)原子分辨率觀察，探索了一種使用定量 STEM 成像進(jìn)行 In 濃度 mapping 分析的方法。Gentle Mill 在該研究中用于去除樣品表面的損傷區(qū)域，確保了樣品的高質(zhì)量和分析結(jié)果的可靠性。

03. 銦摻雜氧化鋅反轉(zhuǎn)疇內(nèi)金屬亞晶格位移場(chǎng)測(cè)量

關(guān)鍵詞：球差校正電鏡，位移場(chǎng)，摻雜化合物

發(fā)表文章：Displacement field measurement of metal sub-lattice in inversion domains of indium-doped zinc oxide

發(fā)表期刊：Ultramicroscopy

使用儀器型號(hào)：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

研究人員借助 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄、清潔的非均相氧化物樣品，并對(duì)其金屬內(nèi)亞晶格位移場(chǎng)進(jìn)行了測(cè)量。該研究中，Gentle Mill 利用低電壓離子束（1 keV Ar+離子）對(duì)樣品進(jìn)行雙面精修，確保了樣品的超薄厚度和高質(zhì)量，為后續(xù)的高分辨率成像和分析提供了有力支持。

04. 使用低電壓進(jìn)行原子尺度的元素 mapping

關(guān)鍵詞：EELS，高分辨 mapping，STEM，多層切片計(jì)算

發(fā)表文章：Elemental mapping at the atomic scale using low accelerating voltages

發(fā)表期刊：Ultramicroscopy

使用儀器型號(hào)：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

研究人員使用 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄、清潔的 SrTiO3（STO）樣品，并通過(guò) EELS 技術(shù)對(duì)其進(jìn)行了原子尺度的元素 mapping 分析。Gentle Mill 在該研究中用于對(duì)樣品進(jìn)行最終的離子束拋光，確保了樣品的高質(zhì)量和分析結(jié)果的精確性。

05. 碳含量對(duì)奧氏體/ε-馬氏體雙相 Fe-Mn-C 鋼的微結(jié)構(gòu)、馬氏體轉(zhuǎn)變和力學(xué)性能的影響

關(guān)鍵詞：高錳鋼，變形誘導(dǎo)的馬氏體，TEM，EBSD

發(fā)表文章：Influence of carbon content on the microstructure,martensitic transformation and mechanical properties in austenite/e-martensite dual-phase Fe–Mn–C steels

發(fā)表期刊：Acta Materialia

使用儀器型號(hào)：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

研究人員借助 Gentle Mill 離子精修儀清除了鋼鐵FIB 樣品上的 Ga 離子污染，從而對(duì)其結(jié)構(gòu)、相變和性能進(jìn)行了準(zhǔn)確、可靠的研究。該研究中，Gentle Mill 利用低能量離子束（0.5 kV）對(duì)樣品表面進(jìn)行了精修，有效去除了 FIB 加工過(guò)程中產(chǎn)生的 Ga 離子污染，為后續(xù)的高分辨率成像和分析提供了清潔的樣品。

06. 使用 STEM 進(jìn)行皮米精度的局域晶體結(jié)構(gòu)分析

關(guān)鍵詞：STEM，晶體結(jié)構(gòu)分析，環(huán)形暗場(chǎng)像

發(fā)表文章：Local crystal structure analysis with several picometer precision using scanning transmission electron microscopy

發(fā)表期刊：Ultramicroscopy

使用儀器型號(hào)：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

研究人員利用 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄的 TmFeO3 樣品，并對(duì)其局域晶體結(jié)構(gòu)進(jìn)行了皮米精度的分析。Gentle Mill 在該研究中用于對(duì)樣品進(jìn)行機(jī)械減薄和低電壓離子束精修，確保了樣品的超薄厚度和高質(zhì)量，為后續(xù)的高分辨率 STEM 分析提供了有力支持。

07. Sm 摻雜 BiFeO3 鐵電外延薄膜中反極性團(tuán)簇的納米級(jí)結(jié)構(gòu)和化學(xué)性質(zhì)

關(guān)鍵詞：納米結(jié)構(gòu)，反極性團(tuán)簇，鐵電薄膜

發(fā)表文章：Nanoscale Structural and Chemical Properties of Antipolar Clusters in Sm-Doped BiFeO3 Ferroelectric Epitaxial Thin Films

發(fā)表期刊：CHEMISTRY OFMATERIALS

使用儀器型號(hào)：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

研究人員借助 Gentle Mill 離子精修儀制備了清潔的摻雜 BiFeO3 外延薄膜，從而研究了其納米級(jí)結(jié)構(gòu)和化學(xué)性質(zhì)。Gentle Mill 在該研究中用于對(duì)樣品進(jìn)行雙面精修，確保了樣品的清潔度和高質(zhì)量，為后續(xù)的高分辨率 STEM 分析提供了有力支持。

08. 為透射電鏡開(kāi)發(fā)的單色器的實(shí)踐工作

關(guān)鍵詞：?jiǎn)紊鳎珽ELS，空間分辨率

發(fā)表文章：Practical aspects of monochromators developed for transmission electron microscopy

發(fā)表期刊：Microscopy

使用儀器型號(hào)：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

借助 Gentle Mill 離子精修儀，研究人員可以制備清潔的 STO 樣品，從而檢驗(yàn)透射電鏡單色器的實(shí)際效果。

09. 探索實(shí)空間中原子內(nèi)部電荷密度分布

關(guān)鍵詞：球差矯正STEM，DPC，電場(chǎng)像，GaN

發(fā)表文章：Probing the Internal Atomic Charge Density Distributions in Real Space

發(fā)表期刊：ACS Nano

使用儀器型號(hào)：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

研究人員利用 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄、清潔的 GaN 樣品，并探索了其內(nèi)部的電荷密度分布。Gentle Mill 在該研究中用于對(duì)樣品進(jìn)行離子束精修，確保了樣品的高質(zhì)量和分析結(jié)果的可靠性。

10. 平衡態(tài) Ni–Al2O3 界面處固-固界面重構(gòu)

關(guān)鍵詞：界面能，界面結(jié)構(gòu)，TEM，重構(gòu)

發(fā)表文章：Solid–solid interface reconstruction at equilibrated Ni–Al2O3 interfaces

發(fā)表期刊：Acta Materialia

使用儀器型號(hào)：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

科學(xué)家們借助 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄、清潔的 Ni–Al2O樣品，并研究了其固-固界面的重構(gòu)行為。Gentle Mill 在該研究中用于對(duì)樣品進(jìn)行低電壓離子拋光，確保了樣品的高質(zhì)量和分析結(jié)果的可靠性。

11. 關(guān)聯(lián) APT 和 STEM 研究揭示了含 Al 和 Gd 的 Mg 合金中 LPSO 相的生長(zhǎng)序列

關(guān)鍵詞：APT，關(guān)聯(lián)成像，Mg合金，長(zhǎng)程堆疊有序（LPSO）

發(fā)表文章：Correlative atom probe tomography and scanning transmission electron microscopy reveal growth sequence of LPSO phase in Mg alloy containing Al and Gd

發(fā)表期刊：Scientific Reports

使用儀器型號(hào)：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

研究人員利用 Gentle Mill 離子精修儀去除 TEM/STEM 觀察時(shí)的污染物，制備了清潔的 Mg 合金針尖，并進(jìn)行了關(guān)聯(lián)的 APT 研究，從而揭示了其生長(zhǎng)序列。Gentle Mill 在該研究中用于對(duì)樣品進(jìn)行低能量離子束精修，確保了樣品的清潔度和高質(zhì)量，為后續(xù)的高分辨率成像和分析提供了有力支持。

Technoorg Linda 公司生產(chǎn)的 Gentle Mill 離子精修儀憑借其低能量離子束技術(shù)和高效精修能力，已成為材料科學(xué)領(lǐng)域的工具。通過(guò)上述 11 篇文獻(xiàn)的精選，我們可以看到 Gentle Mill 在多種材料的微觀結(jié)構(gòu)和性能研究中發(fā)揮了重要作用，為科學(xué)家們提供了高質(zhì)量、清潔的樣品，助力他們?cè)谠蛹?jí)分辨率下實(shí)現(xiàn)精確的成像和分析。無(wú)論是在金屬氧化物、半導(dǎo)體材料還是合金體系中，Gentle Mill 都展現(xiàn)出了性能和可靠性，為材料科學(xué)的前沿研究提供了有力支持。

Gentle Mill 離子精修儀--用于FIB樣品處理

Gentle Mill 離子精修儀產(chǎn)品采用氬離子束，專為最終拋光、精修和改善 FIB 處理后的樣品而設(shè)計(jì)。Gentle Mill 型號(hào)非常適合要求樣品無(wú)加工痕跡、表面幾乎沒(méi)有任何損壞的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用戶。其配備了低能氬離子槍，離子束能量低至 100eV，可把非晶層厚度精修到 1nm 以下，獲得樣品的真實(shí)信息。